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meixinjiance - 2015/3/16 10:47:00
表面异物分析目的：WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
分析方法：WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
根据样品实际情况，以下分析方法可供选用。WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
仪器名称WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
信号检测WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
元素测定WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
检测限WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
深度分辨率WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
适用范围WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
扫描电子显微镜（SEM）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
二次及背向散射电子&X射线WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
B-U (EDS mode)WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
0.1 - 1 at%WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
0.5 - 3 µm (EDS)WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
高辨析率成像WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
元素微观分析及颗粒特征化描述WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
X射线能谱仪（EDS）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
二次背向散射电子&X射线WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
B-UWÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
0.1 – 1 at%WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
0.5 – 3 μmWÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
显微红外显微镜（FTIR）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
红外线吸收WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
分子群WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
0.1 - 1 wt%WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
0.1 - 2.5 µmWÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
污染物分析中识别有机化合物的分子结构WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
拉曼光谱（Raman）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
拉曼散射WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
化学及分子键联资料WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
>=1 wt%WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
共焦模式WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
1到5 µmWÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
非共价键联压焊(复合体、金属键联)WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
定位(随机v. 有组织的结构)WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
俄歇电子能谱仪（AES）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
来自表面附近的Auger电子WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
Li-UWÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
0.1-1%亚单层WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
20 – 200 Ǻ侧面分布模式WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
X射线光电子能谱仪（XPS）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
来自表面原子附近的光电子WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
Li-U化学键联信息WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
0.01 - 1 at% sub-monolayerWÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
20 - 200 Å（剖析模式）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
10 - 100 Å (表面分析）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
测量表面成分及化学状态信息WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
薄膜成份的深度剖面WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
硅 氧氮化物厚度和测量剂量WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
分子和元素种类WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
整个周期表，加分子种类WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
107 - 1010at/cm2 sub-monolayerWÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
1 - 3 monolayers (Static mode)WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
有机材料和无机材料的表面微量分析WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
来自表面的大量光谱WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
表面离子成像WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
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部分案例图片：WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
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塑料断口红色颗粒物分析WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};

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塑料表面白色粉末成分分析WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};

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连接端子pin针表面异物分析WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};

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金手指端部表面异物分析WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};

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镀金管脚表面异物分析WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};

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PCB表面异物成分分析WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};

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84362020gwh - 2015/3/16 11:28:00
快来看看了WÁÿäûb4lbbs.3c3t.com„3ÕKƒ‡};
meixinjiance - 2015/3/17 17:12:00
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