监理检测网论坛

首页 » 试验检测论坛 » 无损检测|焊接检验监督 » 表面异物分析
meixinjiance - 2015/3/16 10:47:00
表面异物分析目的：?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
分析方法：?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
根据样品实际情况，以下分析方法可供选用。?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
仪器名称?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
信号检测?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
元素测定?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
检测限?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
深度分辨率?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
适用范围?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
扫描电子显微镜（SEM）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
二次及背向散射电子&X射线?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
B-U (EDS mode)?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
0.1 - 1 at%?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
0.5 - 3 µm (EDS)?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
高辨析率成像?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
元素微观分析及颗粒特征化描述?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
X射线能谱仪（EDS）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
二次背向散射电子&X射线?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
B-U?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
0.1 – 1 at%?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
0.5 – 3 μm?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
显微红外显微镜（FTIR）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
红外线吸收?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
分子群?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
0.1 - 1 wt%?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
0.1 - 2.5 µm?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
污染物分析中识别有机化合物的分子结构?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
拉曼光谱（Raman）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
拉曼散射?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
化学及分子键联资料?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
>=1 wt%?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
共焦模式?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
1到5 µm?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
非共价键联压焊(复合体、金属键联)?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
定位(随机v. 有组织的结构)?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
俄歇电子能谱仪（AES）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
来自表面附近的Auger电子?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
Li-U?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
0.1-1%亚单层?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
20 – 200 Ǻ侧面分布模式?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
X射线光电子能谱仪（XPS）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
来自表面原子附近的光电子?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
Li-U化学键联信息?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
0.01 - 1 at% sub-monolayer?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
20 - 200 Å（剖析模式）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
10 - 100 Å (表面分析）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
测量表面成分及化学状态信息?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
薄膜成份的深度剖面?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
硅 氧氮化物厚度和测量剂量?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
分子和元素种类?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
整个周期表，加分子种类?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
107 - 1010at/cm2 sub-monolayer?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
1 - 3 monolayers (Static mode)?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
有机材料和无机材料的表面微量分析?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
来自表面的大量光谱?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
表面离子成像?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
部分案例图片：?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

塑料断口红色颗粒物分析?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

塑料表面白色粉末成分分析?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

连接端子pin针表面异物分析?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

金手指端部表面异物分析?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

镀金管脚表面异物分析?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

PCB表面异物成分分析?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$

?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
84362020gwh - 2015/3/16 11:28:00
快来看看了?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
meixinjiance - 2015/3/17 17:12:00
www.mttlab.net www.mttlab.com?o‰§~fÒ8bbs.3c3t.comìDqõɕg$
1
查看完整版本: 表面异物分析
Powered by Discuz!NT Archiver 3.9.913 2001-2025 Comsenz Inc.