| 仪器名称~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 信号检测~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 元素测定~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 检测限~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 深度分辨率~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 适用范围~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ |
| 扫描电子显微镜(SEM)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 二次及背向散射电子&X射线~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | B-U (EDS mode)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 0.1 - 1 at%~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 0.5 - 3 µm (EDS)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 高辨析率成像~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 元素微观分析及颗粒特征化描述~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ |
| X射线能谱仪(EDS)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 二次背向散射电子&X射线~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | B-U~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 0.1 – 1 at%~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 0.5 – 3 μm~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 小面积上的成像与元素组成;缺陷处元素的识别/绘图;颗粒分析(>300nm)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ |
| 显微红外显微镜(FTIR)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 红外线吸收~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 分子群~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 0.1 - 1 wt%~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 0.1 - 2.5 µm~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 污染物分析中识别有机化合物的分子结构~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体(材料识别)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 (Si-H vs. N-H)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 污染物分析(析取、除过气的产品,残余物)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ |
| 拉曼光谱(Raman)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 拉曼散射~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 化学及分子键联资料~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | >=1 wt%~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 共焦模式~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 1到5 µm~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 拉曼,碳层特征 (石墨、金刚石 )~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 非共价键联压焊(复合体、金属键联)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 定位(随机v. 有组织的结构)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ |
| 俄歇电子能谱仪(AES)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 来自表面附近的Auger电子~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | Li-U~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 0.1-1%亚单层~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 20 – 200 Ǻ侧面分布模式~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 缺陷分析;颗粒分析;表面分析;小面积深度剖面;薄膜成分分析~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ |
| X射线光电子能谱仪(XPS)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 来自表面原子附近的光电子~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | Li-U化学键联信息~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 0.01 - 1 at% sub-monolayer~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 20 - 200 Å(剖析模式)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 10 - 100 Å (表面分析)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 测量表面成分及化学状态信息~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 薄膜成份的深度剖面~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 硅 氧氮化物厚度和测量剂量~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 薄膜氧化物厚度测量(SiO2, Al2O3 等.)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ |
| 飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 分子和元素种类~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 整个周期表,加分子种类~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 107 - 1010at/cm2 sub-monolayer~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 1 - 3 monolayers (Static mode)~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 有机材料和无机材料的表面微量分析~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 来自表面的大量光谱~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ 表面离子成像~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ |
~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | ~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | |
塑料断口红色颗粒物分析~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ ~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 塑料表面白色粉末成分分析~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ ~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | |
~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | ~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | |
连接端子pin针表面异物分析~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ ~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | 金手指端部表面异物分析~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ ~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | |
~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | ~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | |
镀金管脚表面异物分析~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ ~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | ||
~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | ~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | |
PCB表面异物成分分析~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ ~'¼¢ÈXbbs.3c3t.com?AØ:þ¡ | ||