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[报告] 表面异物分析 [复制链接]

meixinjiance
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  • 2015-03-11
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发表于 2015-03-16 10:47 |只看楼主
表面异物分析目的：q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
分析方法：q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
根据样品实际情况，以下分析方法可供选用。q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
仪器名称q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
信号检测q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
元素测定q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
检测限q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
深度分辨率q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
适用范围q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
扫描电子显微镜（SEM）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
二次及背向散射电子&X射线q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
B-U (EDS mode)q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
0.1 - 1 at%q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
0.5 - 3 µm (EDS)q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
高辨析率成像q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
元素微观分析及颗粒特征化描述q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
X射线能谱仪（EDS）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
二次背向散射电子&X射线q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
B-Uq *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
0.1 – 1 at%q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
0.5 – 3 μmq *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
显微红外显微镜（FTIR）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
红外线吸收q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
分子群q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
0.1 - 1 wt%q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
0.1 - 2.5 µmq *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
污染物分析中识别有机化合物的分子结构q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
拉曼光谱（Raman）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
拉曼散射q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
化学及分子键联资料q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
>=1 wt%q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
共焦模式q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
1到5 µmq *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
非共价键联压焊(复合体、金属键联)q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
定位(随机v. 有组织的结构)q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
俄歇电子能谱仪（AES）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
来自表面附近的Auger电子q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
Li-Uq *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
0.1-1%亚单层q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
20 – 200 Ǻ侧面分布模式q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
X射线光电子能谱仪（XPS）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
来自表面原子附近的光电子q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
Li-U化学键联信息q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
0.01 - 1 at% sub-monolayerq *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
20 - 200 Å（剖析模式）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
10 - 100 Å (表面分析）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
测量表面成分及化学状态信息q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
薄膜成份的深度剖面q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
硅 氧氮化物厚度和测量剂量q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
分子和元素种类q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
整个周期表，加分子种类q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
107 - 1010at/cm2 sub-monolayerq *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
1 - 3 monolayers (Static mode)q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
有机材料和无机材料的表面微量分析q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
来自表面的大量光谱q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
表面离子成像q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
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部分案例图片：q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
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塑料断口红色颗粒物分析q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm

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塑料表面白色粉末成分分析q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm

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连接端子pin针表面异物分析q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm

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金手指端部表面异物分析q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm

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镀金管脚表面异物分析q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm

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PCB表面异物成分分析q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm

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发表于 2015-03-16 11:28 |只看该用户

快来看看了q *2ƒïGJ<)bbs.3c3t.comL¥f‚úRSkm
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发表于 2015-03-17 17:12 |只看楼主

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