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meixinjiance
- 技术员
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- 78
- 2015-03-11
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发表于 2015-03-16 10:47
|只看楼主
表面异物分析目的：' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*分析方法：' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*根据样品实际情况，以下分析方法可供选用。' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*仪器名称' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 信号检测' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 元素测定' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 检测限' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 深度分辨率' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 适用范围' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 扫描电子显微镜（SEM）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 二次及背向散射电子&X射线' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| B-U (EDS mode)' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 0.1 - 1 at%' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 0.5 - 3 µm (EDS)' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 高辨析率成像' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
元素微观分析及颗粒特征化描述' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| X射线能谱仪（EDS）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 二次背向散射电子&X射线' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| B-U' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 0.1 – 1 at%' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 0.5 – 3 μm' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 显微红外显微镜（FTIR）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 红外线吸收' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 分子群' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 0.1 - 1 wt%' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 0.1 - 2.5 µm' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 污染物分析中识别有机化合物的分子结构' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 拉曼光谱（Raman）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 拉曼散射' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 化学及分子键联资料' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| >=1 wt%' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 共焦模式' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
1到5 µm' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
非共价键联压焊(复合体、金属键联)' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
定位(随机v. 有组织的结构)' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 俄歇电子能谱仪（AES）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 来自表面附近的Auger电子' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| Li-U' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 0.1-1%亚单层' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 20 – 200 Ǻ侧面分布模式' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| X射线光电子能谱仪（XPS）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 来自表面原子附近的光电子' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| Li-U化学键联信息' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 0.01 - 1 at% sub-monolayer' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 20 - 200 Å（剖析模式）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
10 - 100 Å (表面分析）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
测量表面成分及化学状态信息' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
薄膜成份的深度剖面' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
硅 氧氮化物厚度和测量剂量' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 分子和元素种类' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 整个周期表，加分子种类' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 107 - 1010at/cm2 sub-monolayer' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 1 - 3 monolayers (Static mode)' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 有机材料和无机材料的表面微量分析' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
来自表面的大量光谱' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
表面离子成像' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
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' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*部分案例图片：' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@* ' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
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| 塑料断口红色颗粒物分析' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@* ' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 塑料表面白色粉末成分分析' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@* ' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
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| 连接端子pin针表面异物分析' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@* ' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
| 金手指端部表面异物分析' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@* ' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
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| 镀金管脚表面异物分析' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@* ' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
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| PCB表面异物成分分析' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@* ' ²A8bbs.3c3t.com,Fm:Â@*
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