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[报告] 表面异物分析 [复制链接]

meixinjiance
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  • 2015-03-11
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发表于 2015-03-16 10:47 |只看楼主
表面异物分析目的：’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
分析方法：’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
根据样品实际情况，以下分析方法可供选用。’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
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仪器名称’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
信号检测’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
元素测定’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
检测限’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
深度分辨率’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
适用范围’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
扫描电子显微镜（SEM）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
二次及背向散射电子&X射线’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
B-U (EDS mode)’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
0.1 - 1 at%’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
0.5 - 3 µm (EDS)’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
高辨析率成像’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
元素微观分析及颗粒特征化描述’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
X射线能谱仪（EDS）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
二次背向散射电子&X射线’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
B-U’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
0.1 – 1 at%’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
0.5 – 3 μm’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
显微红外显微镜（FTIR）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
红外线吸收’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
分子群’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
0.1 - 1 wt%’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
0.1 - 2.5 µm’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
污染物分析中识别有机化合物的分子结构’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
拉曼光谱（Raman）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
拉曼散射’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
化学及分子键联资料’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
>=1 wt%’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
共焦模式’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
1到5 µm’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
非共价键联压焊(复合体、金属键联)’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
定位(随机v. 有组织的结构)’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
俄歇电子能谱仪（AES）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
来自表面附近的Auger电子’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
Li-U’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
0.1-1%亚单层’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
20 – 200 Ǻ侧面分布模式’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
X射线光电子能谱仪（XPS）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
来自表面原子附近的光电子’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
Li-U化学键联信息’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
0.01 - 1 at% sub-monolayer’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
20 - 200 Å（剖析模式）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
10 - 100 Å (表面分析）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
测量表面成分及化学状态信息’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
薄膜成份的深度剖面’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
硅 氧氮化物厚度和测量剂量’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
分子和元素种类’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
整个周期表，加分子种类’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
107 - 1010at/cm2 sub-monolayer’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
1 - 3 monolayers (Static mode)’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
有机材料和无机材料的表面微量分析’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
来自表面的大量光谱’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
表面离子成像’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
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部分案例图片：’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
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塑料断口红色颗粒物分析’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß

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塑料表面白色粉末成分分析’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß

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连接端子pin针表面异物分析’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß

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金手指端部表面异物分析’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß

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镀金管脚表面异物分析’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß

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PCB表面异物成分分析’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß

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发表于 2015-03-16 11:28 |只看该用户

快来看看了’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
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发表于 2015-03-17 17:12 |只看楼主

www.mttlab.net www.mttlab.com’IÛ㣢+bbs.3c3t.com- ;)§oß
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