meixinjiance
- 技术员
- 26
- 78
- 2015-03-11
|
1#
t
T
发表于 2015-03-18 11:35
|只看楼主
1.案例背景 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 某功能模块在用户端出现功能失效,经返厂检修,发现该模块上的一片IC输出异常,经更换IC后,功能模块恢复正常。 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2.分析方法简述 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 对样品进行外观观察,未发现明显异常。 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 经X-RAY无损检测,未发现明显异常。 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
通过C-SAM扫描发现了IC内部存在分层现象。 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
图5.NG样品C-SAM图片 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 通过IV曲线测试,发现引脚间存在漏电通道。 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
图6.NG样品IV曲线图 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ DE-CAP后,利用SEM/EDS进行分析,确认了引脚间存在银迁移问题。 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 表1.开封后的NG样品内部EDS测试结果(Wt%) 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 3.结论 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ IC内部存在分层,由于水汽的入侵,加上集成电路各引脚之间存在电位差,导致了引脚间的银迁移,从而在引脚间形成微导通电路,致IC输出异常。 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 4.参考标准 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
GJB 548B-2005 微电子器件失效分析程序-方法5003。 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
IPC-TM-650 2.1.1-2004手动微切片法。 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
GB/T 17359-2012 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则。 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ 2³ÍaÚé,èbbs.3c3t.com¿ñ §äÈ
|