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[报告] 表面异物分析 [复制链接]

meixinjiance
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发表于 2015-03-16 10:47 |只看楼主
表面异物分析目的：0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
分析方法：0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
根据样品实际情况，以下分析方法可供选用。0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
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仪器名称0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
信号检测0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
元素测定0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
检测限0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
深度分辨率0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
适用范围0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
扫描电子显微镜（SEM）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
二次及背向散射电子&X射线0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
B-U (EDS mode)0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
0.1 - 1 at%0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
0.5 - 3 µm (EDS)0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
高辨析率成像0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
元素微观分析及颗粒特征化描述0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
X射线能谱仪（EDS）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
二次背向散射电子&X射线0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
B-U0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
0.1 – 1 at%0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
0.5 – 3 μm0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
显微红外显微镜（FTIR）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
红外线吸收0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
分子群0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
0.1 - 1 wt%0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
0.1 - 2.5 µm0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
污染物分析中识别有机化合物的分子结构0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
拉曼光谱（Raman）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
拉曼散射0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
化学及分子键联资料0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
>=1 wt%0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
共焦模式0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
1到5 µm0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
非共价键联压焊(复合体、金属键联)0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
定位(随机v. 有组织的结构)0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
俄歇电子能谱仪（AES）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
来自表面附近的Auger电子0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
Li-U0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
0.1-1%亚单层0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
20 – 200 Ǻ侧面分布模式0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
X射线光电子能谱仪（XPS）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
来自表面原子附近的光电子0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
Li-U化学键联信息0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
0.01 - 1 at% sub-monolayer0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
20 - 200 Å（剖析模式）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
10 - 100 Å (表面分析）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
测量表面成分及化学状态信息0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
薄膜成份的深度剖面0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
硅 氧氮化物厚度和测量剂量0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
分子和元素种类0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
整个周期表，加分子种类0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
107 - 1010at/cm2 sub-monolayer0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
1 - 3 monolayers (Static mode)0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
有机材料和无机材料的表面微量分析0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
来自表面的大量光谱0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
表面离子成像0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
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部分案例图片：0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
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塑料断口红色颗粒物分析0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W

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塑料表面白色粉末成分分析0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W

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连接端子pin针表面异物分析0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W

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金手指端部表面异物分析0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W

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镀金管脚表面异物分析0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W

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PCB表面异物成分分析0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W

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发表于 2015-03-16 11:28 |只看该用户

快来看看了0âŽØ¹¶’bbs.3c3t.comqw ïH®W
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发表于 2015-03-17 17:12 |只看楼主

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