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meixinjiance
- 技术员
- 26
- 78
- 2015-03-11
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发表于 2015-03-16 10:47
|只看楼主
表面异物分析目的:óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p当材料及零部件表面出现未知物质,不能确定其成分及来源时,可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p分析方法:óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p根据样品实际情况,以下分析方法可供选用。óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½póGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p仪器名称óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 信号检测óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 元素测定óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 检测限óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 深度分辨率óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 适用范围óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
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| 二次及背向散射电子&X射线óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| B-U (EDS mode)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 0.1 - 1 at%óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 0.5 - 3 µm (EDS)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 高辨析率成像óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 元素微观分析及颗粒特征化描述óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| X射线能谱仪(EDS)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
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| 小面积上的成像与元素组成;缺陷处元素的识别/绘图;颗粒分析(>300nm)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 显微红外显微镜(FTIR)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 红外线吸收óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
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| 污染物分析中识别有机化合物的分子结构óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体(材料识别)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 (Si-H vs. N-H)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 污染物分析(析取、除过气的产品,残余物)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 拉曼光谱(Raman)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 拉曼散射óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 化学及分子键联资料óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| >=1 wt%óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 共焦模式óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 1到5 µmóGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 拉曼,碳层特征 (石墨、金刚石 )óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 非共价键联压焊(复合体、金属键联)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 定位(随机v. 有组织的结构)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 俄歇电子能谱仪(AES)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 来自表面附近的Auger电子óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| Li-UóGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 0.1-1%亚单层óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 20 – 200 Ǻ侧面分布模式óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 缺陷分析;颗粒分析;表面分析;小面积深度剖面;薄膜成分分析óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| X射线光电子能谱仪(XPS)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 来自表面原子附近的光电子óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| Li-U化学键联信息óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 0.01 - 1 at% sub-monolayeróGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 20 - 200 Å(剖析模式)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 10 - 100 Å (表面分析)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 测量表面成分及化学状态信息óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 薄膜成份的深度剖面óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 硅 氧氮化物厚度和测量剂量óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 薄膜氧化物厚度测量(SiO2, Al2O3 等.)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 分子和元素种类óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 整个周期表,加分子种类óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 107 - 1010at/cm2 sub-monolayeróGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 1 - 3 monolayers (Static mode)óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 有机材料和无机材料的表面微量分析óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 来自表面的大量光谱óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p 表面离子成像óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p部分案例图片:óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½póGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
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| 塑料断口红色颗粒物分析óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
| 塑料表面白色粉末成分分析óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
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| 连接端子pin针表面异物分析óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p óGò`sbbs.3c3t.com[¥8æû7,½p
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