英 文 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
中 文 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
A.C magnetic saturation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
交流磁饱和 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Absorbed dose ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
吸收剂量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Absorbed dose rate ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
吸收剂量率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acceptanc limits ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
验收范围 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acceptance level ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
验收水平 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acceptance standard ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
验收标准 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Accumulation test ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
累积检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acoustic emission count(emission count) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声发射计数(发射计数) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acoustic emission transducer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声发射换能器(声发射传感器) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acoustic emission(AE) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声发射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acoustic holography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声全息术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acoustic impedance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声阻抗 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acoustic impedance matching ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声阻抗匹配 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acoustic impedance method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声阻法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acoustic wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acoustical lens ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声透镜 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Acoustic—ultrasonic ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声-超声(AU) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Activation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
活化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Activity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
活度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Adequate shielding ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
安全屏蔽 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ampere turns ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
安匝数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Amplitude ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
幅度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Angle beam method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
斜射法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Angle of incidence ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
入射角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Angle of reflection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
反射角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Angle of spread ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
指向角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Angle of squint ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
偏向角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Angle probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
斜探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Angstrom unit ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
埃(A) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Area amplitude response curve ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
面积幅度曲线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Area of interest ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
评定区 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Arliflcial disconlinuity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
人工不连续性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Artifact ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
假缺陷 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Artificial defect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
人工缺陷 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Artificial discontinuity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
标准人工缺陷 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
A-scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
A型扫描 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
A-scope; A-scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
A型显示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Attenuation coefficient ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
衰减系数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Attenuator ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
衰减器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Audible leak indicator ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
音响泄漏指示器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Automatic testing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
自动检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Autoradiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
自射线照片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Avaluation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
评定 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Barium concrete ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
钡混凝土 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Barn ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
靶 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Base fog ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
片基灰雾 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Bath ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
槽液 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Bayard- Alpert ionization gage ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
B- A型电离计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Beam ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声束 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Beam ratio ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
光束比 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Beam angle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
束张角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Beam axis ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声束轴线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Beam index ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声束入射点 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Beam path location ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声程定位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Beam path; path length ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声程 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Beam spread ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声束扩散 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Betatron ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电子感应加速器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Bimetallic strip gage ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
双金属片计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Bipolar field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
双极磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Black light filter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
黑光滤波器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Black light; ultraviolet radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
黑光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Blackbody ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
黑体 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Blackbody equivalent temperature ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
黑体等效温度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Bleakney mass spectrometer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
波利克尼质谱仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Bleedout ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
渗出 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Bottom echo ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
底面回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Bottom surface ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
底面 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Boundary echo(first) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
边界一次回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Bremsstrahlung ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
轫致辐射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Broad-beam condition ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
宽射束 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Brush application ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
刷涂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
B-scan presenfation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
B型扫描显示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
B-scope; B-scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
B型显示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
C- scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
C型扫描 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Calibration,instrument ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
设备校准 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Capillary action ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
毛细管作用 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Carrier fluid ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
载液 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Carry over of penetrate ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
渗透剂移转 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Cassette ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
暗合 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Cathode ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阴极 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Central conductor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
中心导体 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Central conductor method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
中心导体法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Characteristic curve ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
特性曲线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Characteristic curve of film ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
胶片特性曲线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Characteristic radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
特征辐射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Chemical fog ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
化学灰雾 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Cine-radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线(活动)电影摄影术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Cintact pads ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
接触垫 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Circumferential coils ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
圆环线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Circumferential field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
周向磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Circumferential magnetization method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
周向磁化法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Clean ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
清理 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Clean- up ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
清除 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Clearing time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
定透时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coercive force ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
矫顽力 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coherence ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相干性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coherence length ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相干长度(谐波列长度) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coi1,test ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
测试线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coil size ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
线圈大小 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coil spacing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
线圈间距 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coil technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
线圈技术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coil method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
线圈法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coilreference ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
线圈参考 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coincidence discrimination ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
符合鉴别 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Cold-cathode ionization gage ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
冷阴极电离计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Collimator ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
准直器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Collimation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
准直 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Collimator ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
准直器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Combined colour comtrast and fluorescent penetrant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
着色荧光渗透剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Compressed air drying ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压缩空气干燥 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Compressional wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压缩波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Compton scatter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
康普顿散射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Continuous emission ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
连续发射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Continuous linear array ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
连续线阵 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Continuous method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
连续法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Continuous spectrum ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
连续谱 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Continuous wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
连续波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Contract stretch ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
对比度宽限 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Contrast ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
对比度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Contrast agent ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
对比剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Contrast aid ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
反差剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Contrast sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
对比灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Control echo ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
监视回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Control echo ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
参考回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Couplant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
耦合剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coupling ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
耦合 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Coupling losses ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
耦合损失 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Cracking ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
裂解 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Creeping wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
爬波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Critical angle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
临界角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Cross section ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
横截面 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Cross talk ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
串音 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Cross-drilled hole ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
横孔 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Crystal ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
晶片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
C-scope; C-scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
C型显示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Curie point ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
居里点 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Curie temperature ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
居里温度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Curie(Ci) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
居里 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Current flow method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
通电法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Current induction method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电流感应法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Current magnetization method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电流磁化法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Cut-off level ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
截止电平 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dead zone ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
盲区 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Decay curve ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
衰变曲线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Decibel(dB) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
分贝 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Defect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
缺陷 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Defect resolution ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
缺陷分辨力 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Defect detection sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
缺陷检出灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Defect resolution ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
缺陷分辨力 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Definition ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
清晰度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Definition, image definition ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
清晰度,图像清晰度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Demagnetization ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
退磁 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Demagnetization factor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
退磁因子 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Demagnetizer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
退磁装置 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Densitometer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
黑度计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Density ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
黑度(底片) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Density comparison strip ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
黑度比较片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Detecting medium ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
检验介质 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Detergent remover ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
洗净液 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Developer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
显像剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Developer station ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
显像工位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Developer, agueons ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
水性显象剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Developer, dry ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干显象剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Developer, liquid film ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
液膜显象剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Developer, nonaqueous (sus- pendible) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
非水(可悬浮)显象剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Developing time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
显像时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Development ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
显影 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Diffraction mottle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
衍射斑 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Diffuse indications ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
松散指示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Diffusion ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扩散 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Digital image acquisition system ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
数字图像识别系统 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dilatational wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
膨胀波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dip and drain station ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
浸渍和流滴工位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Direct contact magnetization ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
直接接触磁化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Direct exposure imaging ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
直接曝光成像 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Direct contact method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
直接接触法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Directivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
指向性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Discontinuity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
不连续性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Distance- gain- size-German AVG ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
距离- 增益- 尺寸(DGS德文为AVG) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Distance marker; time marker ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
距离刻度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dose equivalent ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
剂量当量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dose rate meter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
剂量率计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dosemeter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
剂量计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Double crystal probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
双晶片探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Double probe technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
双探头法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Double transceiver technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
双发双收法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Double traverse technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
二次波法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dragout ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
带出 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Drain time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
滴落时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Drain time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
流滴时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Drift ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
漂移 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dry method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dry powder ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干粉 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dry technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干粉技术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dry developer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干显像剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dry developing cabinet ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干显像柜 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dry method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干粉法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Drying oven ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干燥箱 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Drying station ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干燥工位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Drying time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干燥时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
D-scope; D-scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
D型显示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dual search unit ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
双探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dual-focus tube ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
双焦点管 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Duplex-wire image quality indicator ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
双线像质指示器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Duration ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
持续时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dwell time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
停留时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dye penetrant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
着色渗透剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dynamic leak test ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
动态泄漏检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dynamic leakage measurement ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
动态泄漏测量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dynamic range ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
动态范围 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Dynamic radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
动态射线透照术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Echo ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Echo frequency ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
回波频率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Echo height ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
回波高度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Echo indication ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
回波指示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Echo transmittance of sound pressure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
往复透过率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Echo width ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
回波宽度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Eddy current ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
涡流 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Eddy current flaw detector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
涡流探伤仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Eddy current testiog ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
涡流检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Edge ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
端面 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Edge effect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
边缘效应 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Edge echo ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
棱边回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Edge effect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
边缘效应 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Effective depth penetration (EDP) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
有效穿透深度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Effective focus size ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
有效焦点尺寸 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Effective magnetic permeability ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
有效磁导率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Effective permeability ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
有效磁导率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Effective reflection surface of flaw ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
缺陷有效反射面 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Effective resistance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
有效电阻 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Elastic medium ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
弹性介质 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electric displacement ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电位移 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electrical center ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电中心 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electrode ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电极 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electromagnet ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电磁铁 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electro-magnetic acoustic transducer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电磁声换能器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electromagnetic induction ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电磁感应 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electromagnetic radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电磁辐射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electromagnetic testing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电磁检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electro-mechanical coupling factor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
机电耦合系数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electron radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电子辐射照相术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electron volt ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电子伏恃 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electronic noise ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电子噪声 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Electrostatic spraying ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
静电喷涂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Emulsification ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
乳化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Emulsification time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
乳化时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Emulsifier ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
乳化剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Encircling coils ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
环绕式线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
End effect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
端部效应 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Energizing cycle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
激励周期 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Equalizing filter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
均衡滤波器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Equivalent ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
当量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Equivalent I.Q. I. Sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
象质指示器当量灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Equivalent nitrogen pressure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
等效氮压 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Equivalent penetrameter sensifivty ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
透度计当量灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Equivalent method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
当量法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Erasabl optical medium ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
可探光学介质 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Etching ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
浸蚀 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Evaluation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
评定 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Evaluation threshold ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
评价阈值 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Event count ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
事件计数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Event count rate ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
事件计数率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Examination area ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
检测范围 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Examination region ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
检验区域 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Exhaust pressure/discharge pressure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
排气压力 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Exhaust tubulation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
排气管道 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Expanded time-base sweep ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
时基线展宽 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Exposure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
曝光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Exposure table ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
曝光表格 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Exposure chart ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
曝光曲线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Exposure fog ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
曝光灰雾 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Exposure,radiographic exposure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
曝光,射线照相曝光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Extended source ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扩展源 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Facility scattered neutrons ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
条件散射中子 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
False indication ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
假指示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Family ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
族 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Far field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
远场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Feed-through coil ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
穿过式线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Field, resultant magnetic ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
复合磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fill factor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
填充系数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Film speed ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
胶片速度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Film badge ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
胶片襟章剂量计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Film base ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
片基 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Film contrast ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
胶片对比度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Film gamma ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
胶片γ值 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Film processing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
胶片冲洗加工 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Film speed ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
胶片感光度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Film unsharpness ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
胶片不清晰度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Film viewing screen ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
观察屏 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Filter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
滤波器/滤光板 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Final test ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
复探 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Flat-bottomed hole ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
平底孔 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Flat-bottomed hole equivalent ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
平底孔当量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Flaw ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
伤 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Flaw characterization ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
伤特性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Flaw echo ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
缺陷回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Flexural wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
弯曲波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Floating threshold ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
浮动阀值 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fluorescence ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fluorescent examination method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光检验法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fluorescent magnetic particle inspection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光磁粉检验 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fluorescent dry deposit penetrant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干沉积荧光渗透剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fluorescent light ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fluorescent magnetic powder ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光磁粉 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fluorescent penetrant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光渗透剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fluorescent screen ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光屏 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fluoroscopy ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光检查法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Flux leakage field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁通泄漏场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Flux lines ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁通线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Focal spot ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
焦点 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Focal distance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
焦距 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Focus length ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
焦点长度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Focus size ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
焦点尺寸 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Focus width ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
焦点宽度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Focus(electron) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电子焦点 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Focused beam ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
聚焦声束 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Focusing probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
聚焦探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Focus-to-film distance(f.f.d) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
焦点-胶片距离(焦距) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fog ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
底片灰雾 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fog density ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
灰雾密度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Footcandle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
英尺烛光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Freguency ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
频率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Frequency constant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
频率常数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fringe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干涉带 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Front distance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
前沿距离 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Front distance of flaw ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
缺陷前沿距离 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Full- wave direct current(FWDC) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
全波直流 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Fundamental frequency ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
基频 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Furring ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
毛状迹痕 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gage pressure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
表压 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gain ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
增益 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gamma radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
γ射线透照术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gamma ray source ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
γ射线源 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gamma ray source container ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
γ射线源容器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gamma rays ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
γ射线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gamma-ray radiographic equipment ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
γ射线透照装置 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gap scanning ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
间隙扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gas ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
气体 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gate ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
闸门 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gating technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
选通技术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gauss ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
高斯 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Geiger-Muller counter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
盖革.弥勒计数器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Geometric unsharpness ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
几何不清晰度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Gray(Gy) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
戈瑞 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Grazing incidence ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
掠入射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Grazing angle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
掠射角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Group velocity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
群速度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Half life ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
半衰期 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Half- wave current (HW) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
半波电流 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Half-value layer(HVL) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
半值层 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Half-value method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
半波高度法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Halogen ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
卤素 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Halogen leak detector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
卤素检漏仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Hard X-rays ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
硬X射线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Hard-faced probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
硬膜探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Harmonic analysis ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
谐波分析 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Harmonic distortion ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
谐波畸变 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Harmonics ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
谐频 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Head wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
头波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Helium bombing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
氦轰击法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Helium drift ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
氦漂移 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Helium leak detector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
氦检漏仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Hermetically tight seal ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
气密密封 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
High vacuum ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
高真空 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
High energy X-rays ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
高能X射线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Holography (optical) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
光全息照相 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Holography, acoustic ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声全息 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Hydrophilic emulsifier ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
亲水性乳化剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Hydrophilic remover ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
亲水性洗净剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Hydrostatic text ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
流体静力检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Hysteresis ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁滞 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Hysteresis ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁滞 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
IACS ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
IACS ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
ID coil ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
ID线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Image definition ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
图像清晰度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Image contrast ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
图像对比度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Image enhancement ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
图像增强 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Image magnification ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
图像放大 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Image quality ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
图像质量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Image quality indicator sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
像质指示器灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Image quality indicator(IQI)/image quality indication ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
像质指示器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Imaging line scanner ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
图像线扫描器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Immersion probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
液浸探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Immersion rinse ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
浸没清洗 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Immersion testing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
液浸法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Immersion time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
浸没时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Impedance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阻抗 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Impedance plane diagram ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阻抗平面图 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Imperfection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
不完整性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Impulse eddy current testing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲涡流检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Incremental permeability ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
增量磁导率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Indicated defect area ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
缺陷指示面积 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Indicated defect length ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
缺陷指示长度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Indication ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
指示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Indirect exposure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
间接曝光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Indirect magnetization ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
间接磁化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Indirect magnetization method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
间接磁化法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Indirect scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
间接扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Induced field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
感应磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Induced current method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
感应电流法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Infrared imaging system ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
红外成象系统 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Infrared sensing device ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
红外扫描器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Inherent fluorescence ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
固有荧光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Inherent filtration ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
固有滤波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Initial permeability ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
起始磁导率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Initial pulse ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
始脉冲 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Initial pulse width ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
始波宽度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Inserted coil ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
插入式线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Inside coil ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
内部线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Inside- out testing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
外泄检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Inspection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
检查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Inspection medium ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
检查介质 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Inspection frequency/ test frequency ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
检测频率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Intensifying factor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
增感系数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Intensifying screen ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
增感屏 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Interal,arrival time (Δtij)/arrival time interval(Δtij) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
到达时间差(Δtij) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Interface boundary ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
界面 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Interface echo ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
界面回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Interface trigger ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
界面触发 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Interference ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干涉 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Interpretation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
解释 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ion pump ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
离子泵 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ion source ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
离子源 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ionization chamber ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电离室 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ionization potential ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电离电位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ionization vacuum gage ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电离真空计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ionography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电离射线透照术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Irradiance, E ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
辐射通量密度, E ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Isolation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
隔离检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Isotope ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
同位素 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
K value ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
K值 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Kaiser effect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
凯塞(Kaiser)效应 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Kilo volt ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
kv 千伏特 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Kiloelectron volt ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
keV千电子伏特 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Krypton 85 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
氪85 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
L/D ratio ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
L/D比 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Lamb wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
兰姆波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Latent image ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
潜象 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Lateral scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
左右扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Lateral scan with oblique angle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
斜平行扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Latitude (of an emulsion) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
胶片宽容度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Lead screen ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
铅屏 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Leak ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
泄漏孔 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Leak artifact ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
泄漏器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Leak detector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
检漏仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Leak testtion ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
泄漏检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Leakage field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
泄漏磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Leakage rate ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
泄漏率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Leechs ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁吸盘 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Lift-off effect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
提离效应 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Light intensity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
光强度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Limiting resolution ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
极限分辨率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Line scanner ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
线扫描器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Line focus ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
线焦点 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Line pair pattern ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
线对检测图 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Line pairs per millimetre ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
每毫米线对数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Linear (electron) accelerator(LINAC) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电子直线加速器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Linear attenuation coefficient ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
线衰减系数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Linear scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
线扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Linearity (time or distance) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
线性(时间或距离) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Linearity, anplitude ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
幅度线性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Lines of force ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁力线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Lipophilic emulsifier ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
亲油性乳化剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Lipophilic remover ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
亲油性洗净剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Liquid penetrant examination ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
液体渗透检验 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Liquid film developer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
液膜显像剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Local magnetization ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
局部磁化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Local magnetization method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
局部磁化法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Local scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
局部扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Localizing cone ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
定域喇叭筒 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Location ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
定位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Location accuracy ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
定位精度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Location computed ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
定位,计算 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Location marker ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
定位标记 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Location upon delta-T ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
时差定位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Location, clusfer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
定位,群集 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Location,continuous AE signal ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
定位,连续AE信号 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Longitudinal field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
纵向磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Longitudinal magnetization method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
纵向磁化法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Longitudinal resolution ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
纵向分辨率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Longitudinal wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
纵波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Longitudinal wave probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
纵波探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Longitudinal wave technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
纵波法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Loss of back reflection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
背面反射损失 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Loss of back reflection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
底面反射损失 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Love wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
乐甫波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Low energy gamma radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
低能γ辐射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Low-enerugy photon radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
低能光子辐射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Luminance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
亮度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Luminosity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
流明 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Lusec ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
流西克 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Maga or million electron volts ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
MeV兆电子伏特 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic history ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁化史 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic hysteresis ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁性滞后 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic particle field indication ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁粉磁场指示器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic particle inspection flaw indications ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁粉检验的伤显示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic circuit ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁路 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic domain ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁畴 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic field distribution ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁场分布 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic field indicator ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁场指示器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic field meter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁场计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic field strength ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁场强度(H) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic field/field,magnetic ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic flux ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁通 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic flux density ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁通密度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic force ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁化力 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic leakage field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
漏磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic leakage flux ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
漏磁通 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic moment ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁矩 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic particle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁粉 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic particle indication ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁痕 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic particle testing/magnetic particle examination ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁粉检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic permeability ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁导率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic permeability ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁导率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic pole ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁极 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic saturataion ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁饱和 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic saturation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁饱和 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic slorage meclium ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁储介质 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetic writing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁写 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetizing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetizing current ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁化电流 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetizing coil ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁化线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetostrictive effect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁致伸缩效应 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Magnetostrictive transducer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁致伸缩换能器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Main beam ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
主声束 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Manual testing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
手动检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Markers ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
时标 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
MA-scope; MA-scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
MA型显示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Masking ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
遮蔽 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Mass attcnuation coefficient ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
质量吸收系数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Mass number ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
质量数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Mass spectrometer (M.S.) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
质谱仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Mass spectrometer leak detector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
质谱检漏仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Mass spectrum ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
质谱 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Master/slave discrimination ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
主从鉴别 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
MDTD ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
最小可测温度差 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Mean free path ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
平均自由程 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Medium vacuum ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
中真空 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Mega or million volt ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
MV兆伏特 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Micro focus X - ray tube ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
微焦点X 光管 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Microfocus radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
微焦点射线透照术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Micrometre ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
微米 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Micron of mercury ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
微米汞柱 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Microtron ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电子回旋加速器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Milliampere ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
毫安(mA) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Millimetre of mercury ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
毫米汞柱 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Minifocus x- ray tube ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
小焦点调射线管 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Minimum detectable leakage rate ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
最小可探泄漏率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Minimum resolvable temperature difference (MRTD) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
最小可分辨温度差(MRDT) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Mode ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
波型 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Mode conversion ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
波型转换 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Mode transformation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
波型转换 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Moderator ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
慢化器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Modulation transfer function (MTF) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
调制转换功能(MTF) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Modulation analysis ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
调制分析 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Molecular flow ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
分子流 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Molecular leak ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
分子泄漏 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Monitor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
监控器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Monochromatic ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
单色波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Movement unsharpness ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
移动不清晰度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Moving beam radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
可动射束射线透照术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Multiaspect magnetization method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
多向磁化法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Multidirectional magnetization ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
多向磁化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Multifrequency eddy current testiog ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
多频涡流检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Multiple back reflections ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
多次背面反射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Multiple reflections ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
多次反射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Multiple back reflections ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
多次底面反射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Multiple echo method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
多次反射法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Multiple probe technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
多探头法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Multiple triangular array ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
多三角形阵列 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Narrow beam condition ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
窄射束 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
NC ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
NC ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Near field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
近场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Near field length ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
近场长度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Near surface defect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
近表面缺陷 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Net density ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
净黑度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Net density ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
净(光学)密度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Neutron ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
中子 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Neutron radiograhy ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
中子射线透照 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Neutron radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
中子射线透照术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Newton (N) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
牛顿 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nier mass spectrometer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
尼尔质谱仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Noise ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
噪声 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Noise ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
噪声 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Noise equivalent temperature difference (NETD) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
噪声当量温度差(NETD) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nominal angle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
标称角度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nominal frequency ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
标称频率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Non-aqueous liquid developer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
非水性液体显像剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Noncondensable gas ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
非冷凝气体 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nondcstructivc Examination(NDE) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
无损试验 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nondestructive Evaluation(NDE) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
无损评价 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nondestructive Inspection(NDI) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
无损检验 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nondestructive Testing(NDT) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
无损检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nonerasble optical data ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
可固定光学数据 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nonferromugnetic material ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
非铁磁性材料 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nonrelevant indication ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
非相关指示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Non-screen-type film ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
非增感型胶片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Normal incidence ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
垂直入射(亦见直射声束) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Normal permeability ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
标准磁导率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Normal beam method; straight beam method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
垂直法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Normal probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
直探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Normalized reactance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
归一化电抗 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Normalized resistance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
归一化电阻 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nuclear activity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
核活性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Nuclide ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
核素 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Object plane resolution ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
物体平面分辨率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Object scattered neutrons ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
物体散射中子 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Object beam ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
物体光束 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Object beam angle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
物体光束角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Object-film distance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
被检体-胶片距离 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Object一film distance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
物体- 胶片距离 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Over development ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
显影过度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Over emulsfication ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
过乳化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Overall magnetization ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
整体磁化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Overload recovery time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
过载恢复时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Overwashing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
过洗 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Oxidation fog ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
氧化灰雾 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
P ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
P ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pair production ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
偶生成 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pair production ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电子对产生 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pair production ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电子偶的产生 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Palladium barrier leak detector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
钯屏检漏仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Panoramic exposure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
全景曝光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Parallel scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
平行扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Paramagnetic material ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
顺磁性材料 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Parasitic echo ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
干扰回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Partial pressure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
分压 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Particle content ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁悬液浓度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Particle velocity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
质点(振动)速度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pascal (Pa) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
帕斯卡(帕) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pascal cubic metres per second ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
帕立方米每秒(Pa·m3/s ) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Path length ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
光程长 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Path length difference ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
光程长度差 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pattern ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探伤图形 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Peak current ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
峰值电流 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Penetrameter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
透度计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Penetrameter sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
透度计灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Penetrant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
渗透剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Penetrant comparator ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
渗透对比试块 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Penetrant flaw detection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
渗透探伤 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Penetrant removal ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
渗透剂去除 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Penetrant station ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
渗透工位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Penetrant, water- washable ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
水洗型渗透剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Penetration ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
穿透深度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Penetration time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
渗透时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Permanent magnet ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
永久磁铁 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Permeability coefficient ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
透气系数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Permeability,a-c ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
交流磁导率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Permeability,d-c ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
直流磁导率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phantom echo ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
幻象回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phase analysis ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相位分析 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phase angle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相位角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phase controlled circuit breaker ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
断电相位控制器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phase detection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相位检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phase hologram ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相位全息 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phase sensitive detector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相敏检波器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phase shift ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相位移 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phase velocity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相速度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phase-sensitive system ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相敏系统 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phillips ionization gage ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
菲利浦电离计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Phosphor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光物质 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Photo fluorography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光照相术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Photoelectric absorption ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
光电吸收 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Photographic emulsion ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
照相乳剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Photographic fog ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
照相灰雾 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Photostimulable luminescence ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
光敏发光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Piezoelectric effect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压电效应 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Piezoelectric material ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压电材料 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Piezoelectric stiffness constant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压电劲度常数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Piezoelectric stress constant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压电应力常数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Piezoelectric transducer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压电换能器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Piezoelectric voltage constant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压电电压常数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pirani gage ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
皮拉尼计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pirani gage ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
皮拉尼计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pitch and catch technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
一发一收法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pixel ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
象素 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pixel size ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
象素尺寸 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pixel, disply size ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
象素显示尺寸 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Planar array ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
平面阵(列) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Plane wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
平面波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Plate wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
板波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Plate wave technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
板波法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Point source ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
点源 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Post emulsification ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
后乳化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Post emulsifiable penetrant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
后乳化渗透剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Post-cleaning ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
后清除 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Post-cleaning ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
后清洗 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Powder ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
粉未 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Powder blower ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
喷粉器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Powder blower ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁粉喷* ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pre-cleaning ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
预清理 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pressure difference ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压力差 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pressure dye test ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压力着色检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pressure probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压力探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pressure testing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压力检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pressure- evacuation test ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压力抽空检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pressure mark ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
压痕 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pressure,design ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
设计压力 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pre-test ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
初探 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Primary coil ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
一次线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Primary radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
初级辐射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Probe gas ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探头气体 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Probe test ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探头检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Probe backing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探头背衬 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Probe coil ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
点式线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Probe coil ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探头式线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Probe coil clearance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探头线圈间隙 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Probe index ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探头入射点 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Probe to weld distance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探头-焊缝距离 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Probe/ search unit ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Process control radiograph ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
工艺过程控制的射线照相 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Processing capacity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
处理能力 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Processing speed ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
处理速度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Prods ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
触头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Projective radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
投影射线透照术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Proportioning probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
比例探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Protective material ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
防护材料 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Proton radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
质子射线透照 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pulse ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pulse ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pulse echo method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲回波法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pulse repetition rate ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲重复率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pulse amplitude ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲幅度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pulse echo method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲反射法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pulse energy ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲能量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pulse envelope ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲包络 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pulse length ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲长度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pulse repetition frequency ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲重复频率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pulse tuning ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉冲调谐 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pump- out tubulation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
抽气管道 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Pump-down time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
抽气时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Q factor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Q值 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Quadruple traverse technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
四次波法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Quality (of a beam of radiation) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线束的质 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Quality factor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
品质因数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Quenching ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阻塞 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Quenching of fluorescence ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光的猝灭 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Quick break ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
快速断间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rad(rad) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
拉德 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiance, L ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
面辐射率,L ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiant existence, M ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
幅射照度M ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiant flux; radiant power,ψe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
辐射通量、辐射功率、ψe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
辐射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiation does ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
辐射剂量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radio frequency (r- f) display ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射频显示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radio- frequency mass spectrometer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射频质谱仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radio frequency(r-f) display ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射频显示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiograph ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线底片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic contrast ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线照片对比度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic equivalence factor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线照相等效系数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic exposure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线照相曝光量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic inspection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic inspection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线照相检验 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic quality ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线照相质量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线照相灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic contrast ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线底片对比度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic equivalence factor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线透照等效因子 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic inspection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线透照检查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic quality ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线透照质量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiographic sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线透照灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线照相术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiological examination ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线检验 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiology ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线学 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiometer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
辐射计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radiometry ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
辐射测量术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Radioscopy ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线检查法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Range ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
量程 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rayleigh wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
瑞利波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rayleigh scattering ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
瑞利散射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Real image ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
实时图像 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Real-time radioscopy ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
实时射线检查法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rearm delay time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
重新准备延时时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rearm delay time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
重新进入工作状态延迟时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reciprocity failure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
倒易律失效 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reciprocity law ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
倒易律 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Recording medium ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
记录介质 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Recovery time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
恢复时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rectified alternating current ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉动直流电 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reference block ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
参考试块 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reference beam ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
参考光束 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reference block ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
对比试块 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reference block method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
对比试块法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reference coil ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
参考线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reference line method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
基准线法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reference standard ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
参考标准 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reflection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
反射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reflection coefficient ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
反射系数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reflection density ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
反射密度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reflector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
反射体 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Refraction ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
折射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Refractive index ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
折射率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Refrence beam angle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
参考光束角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reicnlbation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
网纹 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reject; suppression ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
抑制 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rejection level ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
拒收水平 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Relative permeability ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相对磁导率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Relevant indication ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
相关指示 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reluctance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁阻 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rem(rem) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
雷姆 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Remote controlled testing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
机械化检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Replenisers ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
补充剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Representative quality indicator ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
代表性质量指示器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Residual magnetic field/field, residual magnetic ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
剩磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Residual technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
剩磁技术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Residual magnetic method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
剩磁法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Residual magnetism ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
剩磁 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Resistance (to flow) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
气阻 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Resolution ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
分辨力 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Resonance method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
共振法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Response factor ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
响应系数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Response time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
响应时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Resultant field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
复合磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Resultant magnetic field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
合成磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Resultant magnetization method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
组合磁化法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Retentivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
顽磁性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Reversal ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
反转现象 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ring-down count ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
振铃计数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ring-down count rate ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
振铃计数率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rinse ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
清洗 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rise time ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
上升时间 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rise-time discrimination ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
上升时间鉴别 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rod-anode tube ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
棒阳极管 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Roentgen(R) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
伦琴 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Roof angle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
屋顶角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rotational magnetic field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
旋转磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rotational magnetic field method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
旋转磁场法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Rotational scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
转动扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Roughing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
低真空 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Roughing line ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
低真空管道 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Roughing pump ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
低真空泵 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
S ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
S ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Safelight ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
安全灯 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sampling probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
取样探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Saturation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
饱和 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Saturation,magnetic ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁饱和 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Saturation level ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
饱和电平 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scan on grid lines ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
格子线扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scan pitch ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扫查间距 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scanning ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scanning index ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扫查标记 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scanning directly on the weld ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
焊缝上扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scanning path ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扫查轨迹 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scanning sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扫查灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scanning speed ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扫查速度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scanning zone ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扫查区域 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scattared energy ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
散射能量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scatter unsharpness ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
散射不清晰度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scattered neutrons ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
散射中子 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scattered radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
散射辐射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scattering ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
散射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Schlieren system ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
施利伦系统 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scintillation counter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
闪烁计数器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Scintillator and scintillating crystals ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
闪烁器和闪烁晶体 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Screen ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
屏 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Screen unsharpness ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光增感屏不清晰度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Screen-type film ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
荧光增感型胶片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
SE probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
SE探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Search-gas ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探测气体 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Second critical angle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
第二临界角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Secondary radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
二次射线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Secondary coil ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
二次线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Secondary radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
次级辐射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Selectivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
选择性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Semi-conductor detector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
半导体探测器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sensitirity va1ue ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
灵敏度值 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sensitivity of leak test ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
泄漏检测灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sensitivity control ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
灵敏度控制 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Shear wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
切变波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Shear wave probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
横波探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Shear wave technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
横波法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Shim ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
薄垫片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Shot ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
冲击通电 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Side lobe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
副瓣 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Side wall ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
侧面 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sievert(Sv) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
希(沃特) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Signal ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
信号 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Signal gradient ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
信号梯度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Signal over load point ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
信号过载点 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Signal overload level ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
信号过载电平 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Signal to noise ratio ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
信噪比 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Single crystal probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
单晶片探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Single probe technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
单探头法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Single traverse technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
一次波法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sizing technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
定量法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Skin depth ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
集肤深度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Skin effect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
集肤效应 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Skip distance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
跨距 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Skip point ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
跨距点 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sky shine(air scatter) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
空中散射效应 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sniffing probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
嗅吸探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Soft X-rays ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
软X射线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Soft-faced probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
软膜探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Solarization ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
负感作用 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Solenoid ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
螺线管 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Soluble developer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
可溶显像剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Solvent remover ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
溶剂去除剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Solvent cleaners ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
溶剂清除剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Solvent developer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
溶剂显像剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Solvent remover ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
溶剂洗净剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Solvent-removal penetrant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
溶剂去除型渗透剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sorption ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
吸着 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sound diffraction ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声绕射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sound insulating layer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
隔声层 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sound intensity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声强 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sound intensity level ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声强级 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sound pressure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声压 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sound scattering ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声散射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sound transparent layer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
透声层 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sound velocity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声速 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Source ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
源 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Source data label ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
放射源数据标签 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Source location ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
源定位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Source size ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
源尺寸 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Source-film distance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线源-胶片距离 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Spacial frequency ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
空间频率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Spark coil leak detector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电火花线圈检漏仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Specific activity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
放射性比度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Specified sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
规定灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Standard ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
标准 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Standard ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
标准试样 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Standard leak rate ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
标准泄漏率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Standard leak ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
标准泄漏孔 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Standard tast block ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
标准试块 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Standardization instrument ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
设备标准化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Standing wave; stationary wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
驻波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Step wedge ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阶梯楔块 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Step- wadge calibration film ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阶梯楔块校准底片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Step- wadge comparison film ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阶梯楔块比较底片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Step wedge ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阶梯楔块 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Step-wedge calibration film ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阶梯-楔块校准片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Step-wedge comparison film ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阶梯-楔块比较片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Stereo-radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
立体射线透照术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Subject contrast ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
被检体对比度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Subsurface discontinuity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
近表面不连续性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Suppression ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
抑制 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Surface echo ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
表面回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Surface field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
表面磁场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Surface noise ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
表面噪声 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Surface wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
表面波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Surface wave probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
表面波探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Surface wave technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
表面波法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Surge magnetization ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
脉动磁化 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Surplus sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
灵敏度余量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Suspension ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁悬液 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sweep ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扫描 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sweep range ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扫描范围 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Sweep speed ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扫描速度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Swept gain ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
扫描增益 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Swivel scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
环绕扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
System exanlillatien threshold ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
系统检验阈值 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
System inclacel artifacts ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
系统感生物 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
System noise ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
系统噪声 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tackground, target ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
目标本底 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tandem scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
串列扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Target ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
耙 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Target ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
靶 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Television fluoroscopy ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电视X射线荧光检查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Temperature envelope ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
温度范围 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tenth-value-layer(TVL) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
十分之一值层 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Test coil ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
检测线圈 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Test quality level ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
检测质量水平 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Test ring ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
试环 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Test block ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
试块 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Test frequency ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
试验频率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Test piece ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
试片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Test range ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探测范围 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Test surface ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探测面 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Testing,ulrasonic ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超声检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Thermal neutrons ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
热中子 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Thermocouple gage ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
热电偶计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Thermogram ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
热谱图 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Thermography, infrared ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
红外热成象 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Thermoluminescent dosemeter(TLD) ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
热释光剂量计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Thickness sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
厚度灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Third critiical angle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
第三临界角 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Thixotropic penetrant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
摇溶渗透剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Thormal resolution ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
热分辨率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Threading bar ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
穿棒 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Three way sort ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
三档分选 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Threshold setting ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
门限设置 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Threshold fog ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阈值灰雾 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Threshold level ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阀值 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Threshotd tcnet ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
门限电平 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Throttling ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
节流 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Through transmission technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
穿透技术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Through penetration technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
贯穿渗透法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Through transmission technique; transmission technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
穿透法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Through-coil technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
穿过式线圈技术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Throughput ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
通气量 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tight ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
密封 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Total reflection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
全反射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Totel image unsharpness ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
总的图像不清晰度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tracer probe leak location ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
示踪探头泄漏定位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tracer gas ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
示踪气体 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transducer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
换能器/传感器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transition flow ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
过渡流 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Translucent base media ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
半透明载体介质 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transmission ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
透射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transmission densitomefer ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
发射密度计 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transmission coefficient ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
透射系数 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transmission point ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
透射点 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transmission technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
透射技术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transmittance,τ ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
透射率τ ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transmitted film density ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
检测底片黑度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transmitted pulse ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
发射脉冲 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transverse resolution ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
横向分辨率 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Transverse wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
横波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Traveling echo ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
游动回波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Travering scan; depth scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
前后扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Triangular array ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
正三角形阵列 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Trigger/alarm condition ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
触发/报警状态 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Trigger/alarm level ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
触发/报警标准 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Triple traverse technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
三次波法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
True continuous technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
准确连续法技术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Trueattenuation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
真实衰减 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tube current ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
管电流 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tube head ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
管头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tube shield ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
管罩 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tube shutter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
管子光闸 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tube window ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
管窗 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Tube-shift radiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
管子移位射线透照术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Two-way sort ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
两档分选 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultra- high vacuum ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超高真空 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultrasonic leak detector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超声波检漏仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultrasonic noise level ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超声噪声电平 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultrasonic cleaning ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超声波清洗 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultrasonic field ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超声场 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultrasonic flaw detection ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超声探伤 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultrasonic flaw detector ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超声探伤仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultrasonic microscope ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超声显微镜 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultrasonic spectroscopy ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超声频谱 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultrasonic testing system ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超声检测系统 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultrasonic thickness gauge ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
超声测厚仪 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Ultraviolet radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
紫外辐射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Under development ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
显影不足 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Unsharpness ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
不清晰 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Useful density range ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
有效光学密度范围 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
UV-A ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
A类紫外辐射 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
UV-A filter ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
A类紫外辐射滤片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Vacuum ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
真空 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Vacuum cassette ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
真空暗盒 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Vacuum testing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
真空检测 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Vacuum cassette ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
真空暗合 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Van de Graaff generator ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
范德格喇夫起电机 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Vapor pressure ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
蒸汽压 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Vapour degreasing ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
蒸汽除油 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
variable angle probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
可变角探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Vee path ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
V型行程 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Vehicle ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
载体 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Vertical linearity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
垂直线性 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Vertical location ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
垂直定位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Visible light ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
可见光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Vitua limage ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
虚假图像 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Voltage threshold ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
电压阈值 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Voltage threshold ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
阈值电压 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wash station ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
水洗工位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Water break test ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
水膜破坏试验 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Water column coupling method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
水柱耦合法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Water column probe ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
水柱耦合探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Water path; water distance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
水程 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Water tolerance ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
水容限 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Water-washable penetrant ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
可水洗型渗透剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wave ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
波 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wave guide acoustic emission ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
声发射波导杆 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wave train ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
波列 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wave from ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
波形 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wave front ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
波前 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wave length ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
波长 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wave node ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
波节 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wave train ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
波列 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wedge ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
斜楔 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wet slurry technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
湿软磁膏技术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wet technique ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
湿法技术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wet method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
湿粉法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wetting action ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
润湿作用 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wetting action ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
润湿作用 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wetting agents ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
润湿剂 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wheel type probe; wheel search unit ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
轮式探头 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
White light ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
白光 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
White X-rays ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
连续X射线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wobble ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
摆动 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wobble effect ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
抖动效应 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Working sensitivity ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
探伤灵敏度 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Wrap around ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
残响波干扰 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Xeroradiography ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
静电射线透照术 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X-radiation ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X射线 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X-ray controller ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X射线控制器 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X-ray detection apparatus ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X射线探伤装置 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X-ray film ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
射线胶片 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X-ray paper ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X射线感光纸 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X-ray tube ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X射线管 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X-ray tube diaphragm ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
X射线管光阑 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Yoke ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁轭 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Yoke magnetization method ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
磁轭磁化法 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Zigzag scan ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
锯齿扫查 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Zone calibration location ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
时差区域校准定位 ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
Zone location ?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº
区域定位?rëók,{bbs.3c3t.comíÿcùxaº