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[报告] 表面异物分析 [复制链接]

meixinjiance
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  • 78
  • 2015-03-11
1#
t T
发表于 2015-03-16 10:47 |显示全部
表面异物分析目的：¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
分析方法：¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
根据样品实际情况，以下分析方法可供选用。¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
仪器名称¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
信号检测¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
元素测定¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
检测限¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
深度分辨率¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
适用范围¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
扫描电子显微镜（SEM）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
二次及背向散射电子&X射线¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
B-U (EDS mode)¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
0.1 - 1 at%¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
0.5 - 3 µm (EDS)¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
高辨析率成像¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
元素微观分析及颗粒特征化描述¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
X射线能谱仪（EDS）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
二次背向散射电子&X射线¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
B-U¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
0.1 – 1 at%¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
0.5 – 3 μm¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
显微红外显微镜（FTIR）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
红外线吸收¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
分子群¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
0.1 - 1 wt%¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
0.1 - 2.5 µm¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
污染物分析中识别有机化合物的分子结构¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
拉曼光谱（Raman）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
拉曼散射¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
化学及分子键联资料¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
>=1 wt%¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
共焦模式¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
1到5 µm¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
非共价键联压焊(复合体、金属键联)¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
定位(随机v. 有组织的结构)¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
俄歇电子能谱仪（AES）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
来自表面附近的Auger电子¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
Li-U¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
0.1-1%亚单层¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
20 – 200 Ǻ侧面分布模式¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
X射线光电子能谱仪（XPS）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
来自表面原子附近的光电子¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
Li-U化学键联信息¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
0.01 - 1 at% sub-monolayer¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
20 - 200 Å（剖析模式）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
10 - 100 Å (表面分析）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
测量表面成分及化学状态信息¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
薄膜成份的深度剖面¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
硅 氧氮化物厚度和测量剂量¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
分子和元素种类¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
整个周期表，加分子种类¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
107 - 1010at/cm2 sub-monolayer¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
1 - 3 monolayers (Static mode)¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
有机材料和无机材料的表面微量分析¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
来自表面的大量光谱¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
表面离子成像¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
部分案例图片：¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
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塑料断口红色颗粒物分析¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚

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塑料表面白色粉末成分分析¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚

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¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
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连接端子pin针表面异物分析¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚

¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚

金手指端部表面异物分析¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚

¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
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¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚
¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚

镀金管脚表面异物分析¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚

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PCB表面异物成分分析¦cµáBî³\Bbbs.3c3t.comyÙË µ;τ2‚

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