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[报告] 表面异物分析 [复制链接]

meixinjiance
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  • 2015-03-11
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t T
发表于 2015-03-16 10:47 |显示全部
表面异物分析目的：ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
分析方法：ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
根据样品实际情况，以下分析方法可供选用。ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
仪器名称ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
信号检测ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
元素测定ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
检测限ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
深度分辨率ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
适用范围ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
扫描电子显微镜（SEM）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
二次及背向散射电子&X射线ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
B-U (EDS mode)ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
0.1 - 1 at%ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
0.5 - 3 µm (EDS)ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
高辨析率成像ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
元素微观分析及颗粒特征化描述ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
X射线能谱仪（EDS）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
二次背向散射电子&X射线ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
B-UÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
0.1 – 1 at%ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
0.5 – 3 μmÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
显微红外显微镜（FTIR）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
红外线吸收ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
分子群ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
0.1 - 1 wt%ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
0.1 - 2.5 µmÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
污染物分析中识别有机化合物的分子结构ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
拉曼光谱（Raman）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
拉曼散射ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
化学及分子键联资料ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
>=1 wt%ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
共焦模式ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
1到5 µmÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
非共价键联压焊(复合体、金属键联)ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
定位(随机v. 有组织的结构)ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
俄歇电子能谱仪（AES）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
来自表面附近的Auger电子ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
Li-UÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
0.1-1%亚单层ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
20 – 200 Ǻ侧面分布模式ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
X射线光电子能谱仪（XPS）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
来自表面原子附近的光电子ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
Li-U化学键联信息ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
0.01 - 1 at% sub-monolayerÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
20 - 200 Å（剖析模式）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
10 - 100 Å (表面分析）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
测量表面成分及化学状态信息ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
薄膜成份的深度剖面ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
硅 氧氮化物厚度和测量剂量ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
分子和元素种类ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
整个周期表，加分子种类ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
107 - 1010at/cm2 sub-monolayerÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
1 - 3 monolayers (Static mode)ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
有机材料和无机材料的表面微量分析ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
来自表面的大量光谱ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
表面离子成像ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
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部分案例图片：ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK
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塑料断口红色颗粒物分析ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK

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塑料表面白色粉末成分分析ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK

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连接端子pin针表面异物分析ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK

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金手指端部表面异物分析ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK

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镀金管脚表面异物分析ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK

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PCB表面异物成分分析ÞëŽ)Ïãyö‹bbs.3c3t.com$ yÒFؔíÒK

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