表面异物分析 - 无损检测|焊接检验监督 - 监理检测网论坛监理检测网论坛,检测网论坛,检测论坛,试验检测论坛,监理检测论坛,试验检测网,工程检测论坛,监理论坛,监理网,检测网,试验检测考试论坛,检测师考试论坛,助理试验检测师考试,试验检测师考试,试验检测考试报名,试验检测考试现场审核

我的中心

监理检测网论坛 » 试验检测论坛 » 无损检测|焊接检验监督 » 表面异物分析

返回列表

发新话题

回复该主题

查看: 2764\|回复: 2	[报告] 表面异物分析 [复制链接]

meixinjiance

组别技术员
帖子26
积分78
性别
注册时间2015-03-11

个人空间

1^#

字体大小: t T

发表于 2015-03-16 10:47 |显示全部

表面异物分析目的：
当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。
分析方法：
根据样品实际情况，以下分析方法可供选用。

仪器名称.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	信号检测.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	元素测定.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	检测限.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	深度分辨率.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	适用范围.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
扫描电子显微镜（SEM）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	二次及背向散射电子&X射线.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	B-U (EDS mode).Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	0.1 - 1 at%.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	0.5 - 3 µm (EDS).Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	高辨析率成像.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 元素微观分析及颗粒特征化描述.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
X射线能谱仪（EDS）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	二次背向散射电子&X射线.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	B-U.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	0.1 – 1 at%.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	0.5 – 3 μm.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
显微红外显微镜（FTIR）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	红外线吸收.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	分子群.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	0.1 - 1 wt%.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	0.1 - 2.5 µm.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	污染物分析中识别有机化合物的分子结构.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢（Si-H vs. N-H）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
拉曼光谱（Raman）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	拉曼散射.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	化学及分子键联资料.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	>=1 wt%.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	共焦模式.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 1到5 µm.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 拉曼，碳层特征（石墨、金刚石）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 非共价键联压焊(复合体、金属键联).Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 定位(随机v. 有组织的结构).Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
俄歇电子能谱仪（AES）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	来自表面附近的Auger电子.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	Li-U.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	0.1-1%亚单层.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	20 – 200 Ǻ侧面分布模式.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
X射线光电子能谱仪（XPS）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	来自表面原子附近的光电子.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	Li-U化学键联信息.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	0.01 - 1 at% sub-monolayer.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	20 - 200 Å（剖析模式）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 10 - 100 Å (表面分析）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 测量表面成分及化学状态信息.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 薄膜成份的深度剖面.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 硅氧氮化物厚度和测量剂量.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	分子和元素种类.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	整个周期表，加分子种类.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	107 - 1010at/cm2 sub-monolayer.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	1 - 3 monolayers (Static mode).Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	有机材料和无机材料的表面微量分析.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 来自表面的大量光谱.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö 表面离子成像.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö

部分案例图片：

.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö .Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
塑料断口红色颗粒物分析.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö .Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	塑料表面白色粉末成分分析.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö .Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö .Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
连接端子pin针表面异物分析.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö .Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	金手指端部表面异物分析.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö .Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö	.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö .Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
镀金管脚表面异物分析.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö .Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö		.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö .Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö
PCB表面异物成分分析.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö .Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö

转发

TOP

发送短消息 UID 259415 精华 0 查看公共资料搜索主题搜索帖子 meixinjiance 组别技术员帖子26 积分78 性别注册时间2015-03-11 个人空间	2^# 字体大小: t T 发表于 2015-03-17 17:12 \|显示全部 www.mttlab.net www.mttlab.com.Ð·K]\Mbbs.3c3t.comí[~ehúö


	TOP

上一主题| 下一主题

发主话题

回复该主题

高级编辑器

高级编辑器

B Color Image Link Quote Code Smilies

你需要登录后才可以发帖登录 | 注册