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meixinjiance
- 技术员
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- 78
- 2015-03-11
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发表于 2015-03-16 10:47
|只看楼主
表面异物分析目的：(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@分析方法：(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@根据样品实际情况，以下分析方法可供选用。(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@仪器名称(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 信号检测(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 元素测定(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 检测限(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 深度分辨率(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 适用范围(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 扫描电子显微镜（SEM）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 二次及背向散射电子&X射线(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| B-U (EDS mode)(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 0.1 - 1 at%(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 0.5 - 3 µm (EDS)(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 高辨析率成像(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
元素微观分析及颗粒特征化描述(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| X射线能谱仪（EDS）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 二次背向散射电子&X射线(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| B-U(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 0.1 – 1 at%(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 0.5 – 3 μm(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 显微红外显微镜（FTIR）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 红外线吸收(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 分子群(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 0.1 - 1 wt%(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 0.1 - 2.5 µm(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 污染物分析中识别有机化合物的分子结构(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 拉曼光谱（Raman）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 拉曼散射(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 化学及分子键联资料(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| >=1 wt%(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 共焦模式(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
1到5 µm(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
非共价键联压焊(复合体、金属键联)(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
定位(随机v. 有组织的结构)(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 俄歇电子能谱仪（AES）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 来自表面附近的Auger电子(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| Li-U(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 0.1-1%亚单层(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 20 – 200 Ǻ侧面分布模式(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| X射线光电子能谱仪（XPS）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 来自表面原子附近的光电子(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| Li-U化学键联信息(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 0.01 - 1 at% sub-monolayer(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 20 - 200 Å（剖析模式）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
10 - 100 Å (表面分析）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
测量表面成分及化学状态信息(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
薄膜成份的深度剖面(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
硅 氧氮化物厚度和测量剂量(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 分子和元素种类(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 整个周期表，加分子种类(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 107 - 1010at/cm2 sub-monolayer(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 1 - 3 monolayers (Static mode)(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 有机材料和无机材料的表面微量分析(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
来自表面的大量光谱(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
表面离子成像(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
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(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@部分案例图片：(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@ (Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
|  (Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
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| 塑料断口红色颗粒物分析(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@ (Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 塑料表面白色粉末成分分析(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@ (Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
|  (Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
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| 连接端子pin针表面异物分析(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@ (Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
| 金手指端部表面异物分析(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@ (Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
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| 镀金管脚表面异物分析(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@ (Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
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| PCB表面异物成分分析(Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@ (Û£+ ¡h#bbs.3c3t.com} JC'P;÷,@
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