仪器名称9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 信号检测9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 元素测定9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 检测限9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 深度分辨率9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 适用范围9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
扫描电子显微镜（SEM）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 二次及背向散射电子&X射线9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| B-U (EDS mode)9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 0.1 - 1 at%9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 0.5 - 3 µm (EDS)9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 高辨析率成像9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
元素微观分析及颗粒特征化描述9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
X射线能谱仪（EDS）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 二次背向散射电子&X射线9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| B-U9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 0.1 – 1 at%9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 0.5 – 3 μm9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
显微红外显微镜（FTIR）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 红外线吸收9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 分子群9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 0.1 - 1 wt%9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 0.1 - 2.5 µm9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 污染物分析中识别有机化合物的分子结构9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
拉曼光谱（Raman）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 拉曼散射9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 化学及分子键联资料9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| >=1 wt%9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 共焦模式9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
1到5 µm9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
非共价键联压焊(复合体、金属键联)9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
定位(随机v. 有组织的结构)9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
俄歇电子能谱仪（AES）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 来自表面附近的Auger电子9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| Li-U9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 0.1-1%亚单层9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 20 – 200 Ǻ侧面分布模式9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
X射线光电子能谱仪（XPS）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 来自表面原子附近的光电子9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| Li-U化学键联信息9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 0.01 - 1 at% sub-monolayer9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 20 - 200 Å（剖析模式）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
10 - 100 Å (表面分析）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
测量表面成分及化学状态信息9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
薄膜成份的深度剖面9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
硅 氧氮化物厚度和测量剂量9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 分子和元素种类9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 整个周期表，加分子种类9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 107 - 1010at/cm2 sub-monolayer9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 1 - 3 monolayers (Static mode)9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 有机材料和无机材料的表面微量分析9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
来自表面的大量光谱9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
表面离子成像9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
 9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|  9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
塑料断口红色颗粒物分析9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä 9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 塑料表面白色粉末成分分析9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä 9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
 9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|  9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
连接端子pin针表面异物分析9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä 9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
| 金手指端部表面异物分析9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä 9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
 9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|  9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
镀金管脚表面异物分析9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä 9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
 9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|  9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
PCB表面异物成分分析9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä 9äÁDÈñ \Þbbs.3c3t.com/iûJ«$wä
|
%20(2)_1.gif)
