仪器名称¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 信号检测¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 元素测定¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 检测限¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 深度分辨率¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 适用范围¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
扫描电子显微镜（SEM）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 二次及背向散射电子&X射线¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| B-U (EDS mode)¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 0.1 - 1 at%¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 0.5 - 3 µm (EDS)¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 高辨析率成像¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
元素微观分析及颗粒特征化描述¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
X射线能谱仪（EDS）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 二次背向散射电子&X射线¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| B-U¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 0.1 – 1 at%¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 0.5 – 3 μm¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
显微红外显微镜（FTIR）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 红外线吸收¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 分子群¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 0.1 - 1 wt%¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 0.1 - 2.5 µm¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 污染物分析中识别有机化合物的分子结构¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
拉曼光谱（Raman）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 拉曼散射¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 化学及分子键联资料¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| >=1 wt%¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 共焦模式¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
1到5 µm¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
非共价键联压焊(复合体、金属键联)¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
定位(随机v. 有组织的结构)¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
俄歇电子能谱仪（AES）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 来自表面附近的Auger电子¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| Li-U¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 0.1-1%亚单层¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 20 – 200 Ǻ侧面分布模式¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
X射线光电子能谱仪（XPS）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 来自表面原子附近的光电子¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| Li-U化学键联信息¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 0.01 - 1 at% sub-monolayer¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 20 - 200 Å（剖析模式）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
10 - 100 Å (表面分析）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
测量表面成分及化学状态信息¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
薄膜成份的深度剖面¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
硅 氧氮化物厚度和测量剂量¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 分子和元素种类¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 整个周期表，加分子种类¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 107 - 1010at/cm2 sub-monolayer¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 1 - 3 monolayers (Static mode)¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 有机材料和无机材料的表面微量分析¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
来自表面的大量光谱¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
表面离子成像¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
 ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|  ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
塑料断口红色颗粒物分析¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 塑料表面白色粉末成分分析¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
 ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|  ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
连接端子pin针表面异物分析¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
| 金手指端部表面异物分析¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
 ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|  ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
镀金管脚表面异物分析¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
 ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|  ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
PCB表面异物成分分析¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ ¦L±´D¶?bbs.3c3t.com>aV¡ÂòôÊ
|
%20(2)_1.gif)
