仪器名称° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 信号检测° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 元素测定° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 检测限° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 深度分辨率° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 适用范围° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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扫描电子显微镜（SEM）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 二次及背向散射电子&X射线° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| B-U (EDS mode)° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 0.1 - 1 at%° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 0.5 - 3 µm (EDS)° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 高辨析率成像° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
元素微观分析及颗粒特征化描述° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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X射线能谱仪（EDS）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 二次背向散射电子&X射线° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| B-U° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 0.1 – 1 at%° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 0.5 – 3 μm° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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显微红外显微镜（FTIR）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 红外线吸收° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 分子群° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 0.1 - 1 wt%° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 0.1 - 2.5 µm° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 污染物分析中识别有机化合物的分子结构° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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拉曼光谱（Raman）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 拉曼散射° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 化学及分子键联资料° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| >=1 wt%° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 共焦模式° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
1到5 µm° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
非共价键联压焊(复合体、金属键联)° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
定位(随机v. 有组织的结构)° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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俄歇电子能谱仪（AES）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 来自表面附近的Auger电子° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| Li-U° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 0.1-1%亚单层° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 20 – 200 Ǻ侧面分布模式° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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X射线光电子能谱仪（XPS）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 来自表面原子附近的光电子° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| Li-U化学键联信息° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 0.01 - 1 at% sub-monolayer° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 20 - 200 Å（剖析模式）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
10 - 100 Å (表面分析）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
测量表面成分及化学状态信息° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
薄膜成份的深度剖面° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
硅 氧氮化物厚度和测量剂量° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 分子和元素种类° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 整个周期表，加分子种类° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 107 - 1010at/cm2 sub-monolayer° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 1 - 3 monolayers (Static mode)° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 有机材料和无机材料的表面微量分析° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
来自表面的大量光谱° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
表面离子成像° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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塑料断口红色颗粒物分析° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN ° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 塑料表面白色粉末成分分析° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN ° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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连接端子pin针表面异物分析° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN ° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
| 金手指端部表面异物分析° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN ° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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镀金管脚表面异物分析° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN ° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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PCB表面异物成分分析° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN ° ü¡r?Mu[bbs.3c3t.com)ßwÕ¼EN
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