仪器名称 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 信号检测 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 元素测定 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 检测限 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 深度分辨率 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 适用范围 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
扫描电子显微镜（SEM） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 二次及背向散射电子&X射线 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| B-U (EDS mode) YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 0.1 - 1 at% YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 0.5 - 3 µm (EDS) YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 高辨析率成像 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
元素微观分析及颗粒特征化描述 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
X射线能谱仪（EDS） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 二次背向散射电子&X射线 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| B-U YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 0.1 – 1 at% YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 0.5 – 3 μm YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
显微红外显微镜（FTIR） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 红外线吸收 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 分子群 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 0.1 - 1 wt% YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 0.1 - 2.5 µm YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 污染物分析中识别有机化合物的分子结构 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
拉曼光谱（Raman） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 拉曼散射 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 化学及分子键联资料 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| >=1 wt% YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 共焦模式 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
1到5 µm YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
非共价键联压焊(复合体、金属键联) YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
定位(随机v. 有组织的结构) YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
俄歇电子能谱仪（AES） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 来自表面附近的Auger电子 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| Li-U YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 0.1-1%亚单层 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 20 – 200 Ǻ侧面分布模式 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
X射线光电子能谱仪（XPS） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 来自表面原子附近的光电子 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| Li-U化学键联信息 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 0.01 - 1 at% sub-monolayer YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 20 - 200 Å（剖析模式） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
10 - 100 Å (表面分析） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
测量表面成分及化学状态信息 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
薄膜成份的深度剖面 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
硅 氧氮化物厚度和测量剂量 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS） YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 分子和元素种类 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 整个周期表，加分子种类 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 107 - 1010at/cm2 sub-monolayer YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 1 - 3 monolayers (Static mode) YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 有机材料和无机材料的表面微量分析 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
来自表面的大量光谱 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
表面离子成像 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|  YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
塑料断口红色颗粒物分析 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢ YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 塑料表面白色粉末成分分析 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢ YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|  YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
连接端子pin针表面异物分析 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢ YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
| 金手指端部表面异物分析 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢ YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|  YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
镀金管脚表面异物分析 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢ YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|  YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
PCB表面异物成分分析 YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢ YjâoVô»ãbbs.3c3t.comgºñÊÎæ¢
|
%20(2)_1.gif)
