仪器名称`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 信号检测`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 元素测定`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 检测限`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 深度分辨率`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 适用范围`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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扫描电子显微镜（SEM）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 二次及背向散射电子&X射线`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| B-U (EDS mode)`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 0.1 - 1 at%`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 0.5 - 3 µm (EDS)`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 高辨析率成像`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
元素微观分析及颗粒特征化描述`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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X射线能谱仪（EDS）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 二次背向散射电子&X射线`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| B-U`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 0.1 – 1 at%`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 0.5 – 3 μm`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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显微红外显微镜（FTIR）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 红外线吸收`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 分子群`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 0.1 - 1 wt%`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 0.1 - 2.5 µm`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 污染物分析中识别有机化合物的分子结构`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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拉曼光谱（Raman）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 拉曼散射`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 化学及分子键联资料`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| >=1 wt%`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 共焦模式`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
1到5 µm`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
非共价键联压焊(复合体、金属键联)`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
定位(随机v. 有组织的结构)`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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俄歇电子能谱仪（AES）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 来自表面附近的Auger电子`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| Li-U`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 0.1-1%亚单层`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 20 – 200 Ǻ侧面分布模式`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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X射线光电子能谱仪（XPS）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 来自表面原子附近的光电子`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| Li-U化学键联信息`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 0.01 - 1 at% sub-monolayer`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 20 - 200 Å（剖析模式）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
10 - 100 Å (表面分析）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
测量表面成分及化学状态信息`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
薄膜成份的深度剖面`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
硅 氧氮化物厚度和测量剂量`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 分子和元素种类`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 整个周期表，加分子种类`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 107 - 1010at/cm2 sub-monolayer`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 1 - 3 monolayers (Static mode)`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 有机材料和无机材料的表面微量分析`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
来自表面的大量光谱`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
表面离子成像`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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塑料断口红色颗粒物分析`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡ `fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 塑料表面白色粉末成分分析`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡ `fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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连接端子pin针表面异物分析`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡ `fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
| 金手指端部表面异物分析`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡ `fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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镀金管脚表面异物分析`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡ `fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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PCB表面异物成分分析`fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡ `fgfÌô¬tbbs.3c3t.com(ý7el&h¡
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