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[报告] 表面异物分析 [复制链接]

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表面异物分析目的:»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
当材料及零部件表面出现未知物质,不能确定其成分及来源时,可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
分析方法:»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
根据样品实际情况,以下分析方法可供选用。»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
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仪器名称»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
信号检测»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
元素测定»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
检测限»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
深度分辨率»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
适用范围»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
扫描电子显微镜(SEM)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
二次及背向散射电子&X射线»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
B-U (EDS mode)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
0.1 - 1 at%»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
0.5 - 3 µm (EDS)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
高辨析率成像»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
元素微观分析及颗粒特征化描述»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
X射线能谱仪(EDS)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
二次背向散射电子&X射线»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
B-U»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
0.1 – 1 at%»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
0.5 – 3 μm»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
小面积上的成像与元素组成;缺陷处元素的识别/绘图;颗粒分析(>300nm)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
显微红外显微镜(FTIR)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
红外线吸收»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
分子群»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
0.1 - 1 wt%»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
0.1 - 2.5 µm»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
污染物分析中识别有机化合物的分子结构»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体(材料识别)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 (Si-H vs. N-H)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
污染物分析(析取、除过气的产品,残余物)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
拉曼光谱(Raman)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
拉曼散射»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
化学及分子键联资料»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
>=1 wt%»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
共焦模式»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
1到5 µm»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
拉曼,碳层特征 (石墨、金刚石 )»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
非共价键联压焊(复合体、金属键联)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
定位(随机v. 有组织的结构)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
俄歇电子能谱仪(AES)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
来自表面附近的Auger电子»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
Li-U»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
0.1-1%亚单层»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
20 – 200 Ǻ侧面分布模式»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
缺陷分析;颗粒分析;表面分析;小面积深度剖面;薄膜成分分析»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
X射线光电子能谱仪(XPS)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
来自表面原子附近的光电子»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
Li-U化学键联信息»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
0.01 - 1 at% sub-monolayer»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
20 - 200 Å(剖析模式)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
10 - 100 Å (表面分析)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
测量表面成分及化学状态信息»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
薄膜成份的深度剖面»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
硅 氧氮化物厚度和测量剂量»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
薄膜氧化物厚度测量(SiO2, Al2O3 等.)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
分子和元素种类»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
整个周期表,加分子种类»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
107 - 1010at/cm2 sub-monolayer»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
1 - 3 monolayers (Static mode)»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
有机材料和无机材料的表面微量分析»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
来自表面的大量光谱»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
表面离子成像»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
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部分案例图片:»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ
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塑料断口红色颗粒物分析»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ

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塑料表面白色粉末成分分析»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ

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连接端子pin针表面异物分析»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ

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金手指端部表面异物分析»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ

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镀金管脚表面异物分析»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ

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PCB表面异物成分分析»³ûIÁŽ«1˜bbs.3c3t.comYöÊ¢V:ˆ

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