仪器名称»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 信号检测»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 元素测定»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 检测限»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 深度分辨率»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 适用范围»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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扫描电子显微镜(SEM)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 二次及背向散射电子&X射线»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| B-U (EDS mode)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 0.1 - 1 at%»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 0.5 - 3 µm (EDS)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 高辨析率成像»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 元素微观分析及颗粒特征化描述»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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X射线能谱仪(EDS)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 二次背向散射电子&X射线»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| B-U»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 0.1 – 1 at%»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 0.5 – 3 μm»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 小面积上的成像与元素组成;缺陷处元素的识别/绘图;颗粒分析(>300nm)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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显微红外显微镜(FTIR)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 红外线吸收»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 分子群»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 0.1 - 1 wt%»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 0.1 - 2.5 µm»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 污染物分析中识别有机化合物的分子结构»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体(材料识别)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 (Si-H vs. N-H)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 污染物分析(析取、除过气的产品,残余物)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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拉曼光谱(Raman)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 拉曼散射»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 化学及分子键联资料»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| >=1 wt%»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 共焦模式»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 1到5 µm»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 拉曼,碳层特征 (石墨、金刚石 )»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 非共价键联压焊(复合体、金属键联)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 定位(随机v. 有组织的结构)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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俄歇电子能谱仪(AES)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 来自表面附近的Auger电子»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| Li-U»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 0.1-1%亚单层»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 20 – 200 Ǻ侧面分布模式»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 缺陷分析;颗粒分析;表面分析;小面积深度剖面;薄膜成分分析»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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X射线光电子能谱仪(XPS)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 来自表面原子附近的光电子»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| Li-U化学键联信息»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 0.01 - 1 at% sub-monolayer»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 20 - 200 Å(剖析模式)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 10 - 100 Å (表面分析)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 测量表面成分及化学状态信息»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 薄膜成份的深度剖面»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 硅 氧氮化物厚度和测量剂量»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 薄膜氧化物厚度测量(SiO2, Al2O3 等.)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 分子和元素种类»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 整个周期表,加分子种类»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 107 - 1010at/cm2 sub-monolayer»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 1 - 3 monolayers (Static mode)»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 有机材料和无机材料的表面微量分析»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 来自表面的大量光谱»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: 表面离子成像»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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塑料断口红色颗粒物分析»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: »³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 塑料表面白色粉末成分分析»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: »³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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连接端子pin针表面异物分析»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: »³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
| 金手指端部表面异物分析»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: »³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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镀金管脚表面异物分析»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: »³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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PCB表面异物成分分析»³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V: »³ûIÁ«1bbs.3c3t.comYî¿öÊ¢V:
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