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[报告] 表面异物分析 [复制链接]

meixinjiance
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  • 2015-03-11
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发表于 2015-03-16 10:47 |只看楼主
表面异物分析目的：›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
当材料及零部件表面出现未知物质，不能确定其成分及来源时，可以通过对异物进行微观形貌观察和成分分析进行判断。›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
分析方法：›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
根据样品实际情况，以下分析方法可供选用。›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
仪器名称›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
信号检测›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
元素测定›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
检测限›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
深度分辨率›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
适用范围›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
扫描电子显微镜（SEM）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
二次及背向散射电子&X射线›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
B-U (EDS mode)›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
0.1 - 1 at%›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
0.5 - 3 µm (EDS)›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
高辨析率成像›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
元素微观分析及颗粒特征化描述›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
X射线能谱仪（EDS）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
二次背向散射电子&X射线›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
B-U›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
0.1 – 1 at%›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
0.5 – 3 μm›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
显微红外显微镜（FTIR）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
红外线吸收›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
分子群›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
0.1 - 1 wt%›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
0.1 - 2.5 µm›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
污染物分析中识别有机化合物的分子结构›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体（材料识别）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
量化硅中氧和氢以及氮化硅晶圆中的氢 （Si-H vs. N-H）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
污染物分析（析取、除过气的产品，残余物）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
拉曼光谱（Raman）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
拉曼散射›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
化学及分子键联资料›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
>=1 wt%›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
共焦模式›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
1到5 µm›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
拉曼，碳层特征 （石墨、金刚石 ）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
非共价键联压焊(复合体、金属键联)›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
定位(随机v. 有组织的结构)›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
俄歇电子能谱仪（AES）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
来自表面附近的Auger电子›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
Li-U›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
0.1-1%亚单层›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
20 – 200 Ǻ侧面分布模式›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
X射线光电子能谱仪（XPS）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
来自表面原子附近的光电子›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
Li-U化学键联信息›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
0.01 - 1 at% sub-monolayer›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
20 - 200 Å（剖析模式）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
10 - 100 Å (表面分析）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
测量表面成分及化学状态信息›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
薄膜成份的深度剖面›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
硅 氧氮化物厚度和测量剂量›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
薄膜氧化物厚度测量（SiO2, Al2O3 等.）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
分子和元素种类›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
整个周期表，加分子种类›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
107 - 1010at/cm2 sub-monolayer›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
1 - 3 monolayers (Static mode)›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
有机材料和无机材料的表面微量分析›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
来自表面的大量光谱›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
表面离子成像›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
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部分案例图片：›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K
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塑料断口红色颗粒物分析›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K

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塑料表面白色粉末成分分析›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K

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连接端子pin针表面异物分析›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K

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金手指端部表面异物分析›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K

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镀金管脚表面异物分析›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K

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PCB表面异物成分分析›PtÃqO›íJäbbs.3c3t.com2™6u8Á‡ K

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